The FCMN will bring together scientists and engineers interested in all aspects of the characterization technology needed for nanoelectronic materials and device research, development, and manufacturing. All approaches are welcome: chemical, physical, electrical, magnetic, optical, in-situ, and real-time control and monitoring. The conference will summarize major issues and provided critical reviews of important semiconductor techniques needed as the semiconductor industry moves to silicon nanoelectronics and beyond.
FCMN — International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics se tiendra en Monterey, California, États-Unis entre le 02 avril 2019 et 04 avril 2019.Il couvre des domaines spécifiques de Sciences de l'ingénieur comme 0. Visitez le site web de la conférence pour des informations plus détaillées ou contactez l'organisateur pour des questions spécifiques.
Ajouter au calendrier2019-04-022019-04-04Europe/LondonFCMN — International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronicshttps://www.sciencedz.net/fr/conference/49935-fcmn-international-conference-on-frontiers-of-characterization-and-metrology-for-nanoelectronicsMonterey, California - États-Unis
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